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A Path Dependence Identification Method for Power MOSFETs Degradation Due to Bias Temperature Instability |
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Xuerong Ye; Qisen Sun; Ruyue Zhang; Yifan Hu; Cen Chen; et al 出版日期:2024-06-14 |
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(2025-6-4)