| 标题 |
19-nm critical dimension process using mask shift double exposure in ArF immersion |
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| DOI |
10.1117/1.jmm.23.1.014801
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| 其它 |
期刊:Journal of micro/nanopatterning, materials, and metrology 作者:Jungchul Song; Gyu-Won Han; Jeong-Hwan Kim; Ga‐Won Lee 出版日期:2024-02-01 |
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(2025-6-4)