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  Investigation on the Thermal Characteristics of Enhancement-Mode p-GaN HEMT Device on Si Substrate Using Thermoreflectance Microscopy Si衬底上增强型p-GaN HEMT器件热特性的热反射显微镜研究
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期刊：Micromachines 作者：Hongyue Wang; Chao Yuan; Yajie Xin; Yijun Shi; Yaozong Zhong; et al 出版日期：2022-03-18 |
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