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 Characterisation of Planar Defects in Ternary Layered Chalcogenides for Electronic Devices 相关领域
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Tigran Simonian; Ahin Roy; Zdeněk Sofer; Valeria Nicolosi 出版日期：2022-07-22 |
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(2025-6-4)
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