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  High‐Endurance STO:YSZ Optoelectronic Memristors with Vertically Aligned Nanocomposite Structure for Edge Detection 用于边缘检测的具有垂直排列纳米复合结构的高耐久性STO：YSZ光电忆阻器
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期刊：Advanced Science 作者：Jiacheng Wang; Jikang Xu; Xu Han; Weidong Sun; Fu Wang; et al 出版日期：2025-11-06 |
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