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 Analysis of Negative Bias Temperature Instability Degradation in p-Type Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors of Different Grain Sizes 相关领域
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Hong‐Yi Tu; Tsung‐Ming Tsai; Chia‐Chuan Wu; Yu‐Ching Tsao; Mao‐Chou Tai; et al 出版日期：2019-09-18 |
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