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Enhanced electrical performance of tellurium FETs via ultra-thin atomic-layer-deposited Al2O3 interlayer for Fermi-level de-pinning |
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期刊:Nanotechnology 作者:Yeongeun Kwon; Seyoung Oh; O. Kwon; Minhee Kim; Shinhoi Kim; et al 出版日期:2026-05-22 |
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(2025-6-4)