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 Using Raman spectroscopy and x-ray diffraction for phase determination in ferroelectric mixed Hf1−xZrxO2-based layers 相关领域
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Uwe Schroeder; Ridham Sachdeva; Patrick D. Lomenzo; Bohan Xu; Monica Materano; et al 出版日期：2022-12-02 |
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