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标题
Finite element simulation-based prediction of CMOS-compatible pyroelectric material in MEMS IR detectors
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DOI
10.1016/j.microrel.2023.115076 doi
其它 期刊:Microelectronics Reliability
作者:Ranu; Pankaj B. Agarwal
出版日期:2023-08-01
求助人
hanfeilbq 在 2026-07-22 14:38:42 发布自广东,悬赏 10 积分
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