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Grain-Orientation-Engineering of Atomic Layer Deposited Ruthenium Interconnect Technology |
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期刊:2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Youngchul Leem; Eun-Hyoung Cho; Dae-Jin Yang; Young Min Lee; Taewon Jeong; et al 出版日期:2025-12-06 |
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(2025-6-4)