| 标题 |
 Fabrication of focused electron beam induced deposition tips for high-speed atomic force microscopy using benchtop scanning electron microscopy 相关领域
制作
扫描电子显微镜
材料科学
电子束诱导沉积
纳米技术
扫描离子电导显微镜
导电原子力显微镜
扫描探针显微镜
显微镜
加速电压
沉积（地质）
原子力显微镜
扫描共焦电子显微镜
分辨率（逻辑）
平版印刷术
纳米压痕
常规透射电子显微镜
阴极射线
光电子学
纳米光刻
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nature Protocols 作者：Motonori Imamura; Atsushi Miyagi; Alma P. Perrino; Simon Scheuring 出版日期：2026-05-12 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
v0id
cdercder
大力的冬萱
prigogin
慈祥的又菱
aaaa
arniu2008
明亮尔蓝
XLL小绿绿
嘉心糖
ale
行走的荷尔蒙
丰富语蕊
干净的琦
OK
完美巧凡
虫培
Mary
pluto
皖公网安备34019202002308
