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Heterogeneously Integrated Nitrogen-Vacancy Sensing for Real-Time CMOS Security Threat Detection 用于实时CMOS安全威胁检测的异构集成氮空位传感
相关领域
CMOS芯片
空位缺陷
氮气
材料科学
计算机科学
计算机安全
业务
光电子学
化学
物理
凝聚态物理
有机化学
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期刊:IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 作者:Maitreyi Ashok; Yongli Hu; Hanfeng Wang; Ethan G. Arnault; Hamza Raniwala; et al 出版日期:2025-01-01 |
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