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 Critical assessment of machine-learned repulsive potentials for the density functional based tight-binding method: A case study for pure silicon 基于密度泛函的紧结合方法的机器学习排斥势的关键评估：纯硅的案例研究
相关领域
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期刊：The Journal of Chemical Physics 作者：Dylan Bissuel; Tristan Albaret; Thomas A. Niehaus 出版日期：2022-01-23 |
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