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Structure evolution of the interfacial layer of BaTiO3 thin films during annealing process and related good resistive switching behaviors 相关领域
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期刊:APL Materials 作者:Zixiong Sun; Sizhao Huang; Wenxuan Zhu; Yorick A. Birkhölzer; Xing Gao; et al 出版日期:2023-10-01 |
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