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 Hot-carrier aging of the MOS transistor in the presence of spin-on glass as the interlevel dielectric 旋涂玻璃作为层间介质存在下MOS晶体管的热载流子老化
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：N. Lifshitz; G. Smolinsky 出版日期：1991-03-01 |
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