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 Towards industrial in-field optical metrology: A wavefront aberrations retrieval technique through single-frame interferogram 相关领域
波前
计算机科学
计量学
干涉测量
光学（聚焦）
自适应光学
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人工智能
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过程（计算）
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傅里叶变换
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期刊：Measurement 作者：Miao Li; Kun Liu; Zhenyu Wang; Jinghua Yu; Xianlei Liu; et al 出版日期：2025-12-11 |
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