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Fine-Tuned V th for Logic Reconfigurability in Dual-Gate Zinc Oxynitride Transistors |
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期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Heebeen Shin; Youngmin Han; Minseo Kim; Jae Yeon Park; Wonjun Shin; et al 出版日期:2025-11-22 |
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(2025-6-4)