拉曼光谱
近场扫描光学显微镜
材料科学
光学显微镜
光学
显微镜
光圈(计算机存储器)
光谱学
分辨率(逻辑)
拉曼显微镜
扫描探针显微镜
近场和远场
光电子学
扫描电子显微镜
拉曼散射
物理
量子力学
计算机科学
人工智能
复合材料
声学
作者
Sumio Hosaka,Hirokazu Koyabu,Yusuke Aramomi,Hayato Sone,You Yin,Eiji Sato,Kenji Tochigi
出处
期刊:Key Engineering Materials
日期:2010-12-01
卷期号:459: 129-133
标识
DOI:10.4028/www.scientific.net/kem.459.129
摘要
We have prototyped illumination-collection mode scanning near-field optical microscopy (SNOM) and near-field Raman spectroscopy (NFRS) with gold inner-covered aperture-less pyramidal probe in order to study the possibility to detect optical images, and Raman spectrum and Raman peak shift for stress distribution in Si device with high resolution of about 10 nm.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI