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作者
Shreetu Shrestha,René Fischer,Gebhard J. Matt,Patrick Feldner,Thilo Michel,Andres Osvet,Ievgen Levchuk,Benoit Merle,Saeedeh Golkar,Haiwei Chen,Sandro F. Tedde,O. Schmidt,Rainer Hock,M. Rührig,Mathias Göken,Wolfgang Heiß,G. Anton,Christoph J. Brabec
出处
期刊：Nature Photonics
[Nature Portfolio]
日期：2017-06-19
卷期号：11 (7): 436-440
被引量：540
标识
DOI：10.1038/nphoton.2017.94
摘要
Methyl ammonium lead triiodide perovskite wafers for application in direct conversion X-ray detectors are fabricated by a room-temperature sintering process. A conversion efficiency of 2,527 mC Gyaircm–2 under 70 kVp X-ray exposure is obtained.
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