Une technique de correction du "décalage" d'un échantillon au cours d'expériences sur un diffractomètre à compteur à localisation courbe

L'effet d'un décalage de l'échantillon au sein d'un diffractomètre équipé d'un compteur à localisation courbe est analysé. Une technique permettant de corriger l'effet de ces décalages d'échantillon sur le positionnement des raies de diffraction est proposée. Cette technique a été mise en application pour l'exploitation d'expériences diffractométriques en température sur des poudres minérales. Les effets des déplacements d'échantillon, induits par les dilatations thermiques des dispositifs de maintien, ont pu être corrigés permettant des études des évolutions de paramètres cristallins des matériaux malgré l'absence de moyens précis de réglage de la position de l'échantillon.