A DHTOL Test-Based Methodology to Investigate the Switching Reliability of GaN HEMTs Under Repeated Drain Voltage Ringing

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作者
M. N.,Bhanu Teja Vankayalapati,S.R. Bahl,Fei Yang,A. Deshmukh,Bilal Akin
出处
期刊:IEEE Transactions on Power Electronics [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:41 (2): 1677-1689
标识
DOI:10.1109/tpel.2025.3598075
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