欠采样
倾斜(摄像机)
材料科学
阴极射线
光学
梁(结构)
电子
物理
计算机科学
数学
人工智能
核物理学
几何学
作者
Timothy Craig,Ajinkya Kadu,Kees Joost Batenburg,Sara Bals
出处
期刊:Nanoscale
[Royal Society of Chemistry]
日期:2023-01-01
摘要
Electron tomography is a widely used technique for 3D structural analysis of nanomaterials, but it can cause damage to samples due to high electron doses and long exposure times. To...
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