Emerging trends in the chemistry of polymeric resists for extreme ultraviolet lithography

抵抗 极紫外光刻 极端紫外线 平版印刷术 纳米技术 紫外线 化学 材料科学 光学 物理 光电子学 激光器 图层(电子)
作者
Jie Cen,Zhengyu Deng,Shiyong Liu
出处
期刊:Polymer Chemistry [Royal Society of Chemistry]
卷期号:15 (45): 4599-4614 被引量:26
标识
DOI:10.1039/d4py00957f
摘要

Patterning materials have advanced significantly to achieve high-resolution fabrication of integrated circuits for extreme ultraviolet (EUV) lithography. Emerging trends in the chemistry of polymeric resists for EUV lithography are summarized.
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