铁电性
材料科学
随时间变化的栅氧化层击穿
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栅氧化层
作者
Tiang Teck Tan,Tian‐Li Wu,Hsien-Yang Liu,Cheng‐Yu Yu,K. Shubhakar,Nagarajan Raghavan,K. L. Pey
标识
DOI:10.1016/j.microrel.2024.115584
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