插入损耗
Ka波段
微带线
材料科学
光电子学
光学
物理
作者
Ching‐Wen Tang,Wei-Lun Tsai,Chieh Lee,You-Lin Luo
出处
期刊:IEEE Access
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期:2025-01-01
卷期号:: 1-1
标识
DOI:10.1109/access.2025.3561738
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