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作者
M. Molina-Ruiz,R. Zhou,A.S. Markosyan,M. M. Fejer,Aaron Davenport,Carmen S. Menoni,F. Hellman
出处
期刊:
日期:2025-01-01
卷期号:: FA.3-FA.3
标识
DOI:10.1364/oic.2025.fa.3
摘要
The absorption coefficient of vapor-deposited amorphous silicon is reduced orders of magnitude at near-infrared wavelengths when hydrogenated despite low H incorporation. Raman and ESR measurements suggest H catalyzes structural relaxation of weak Si–Si bonds.
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