氢溢流
氢
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作者
Hyojin Yoon,Yong-Jin Kim,Ethan J. Crumlin,Donghwa Lee,Kyuwook Ihm,Junwoo Son
标识
DOI:10.1021/acs.jpclett.9b02670
摘要
O from surface O atoms that have low coordination and weak binding strength. Our results reveal the importance of in situ characterization to prove the dynamic change during redox reaction and present an opportunity to control intrinsic defects at the surface.
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