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物理
冶金
作者
Yongning He,W Zhang,S C Zhang,Meng Qi,Minrui Ye,X Li,Youlong Xu
标识
DOI:10.1109/ivesc.2010.5644465
摘要
In this paper, a prototype UV detector of MSM (metal-semiconductor-metal) structure based ZnO nanowires film was designed and fabricated, and then tested under UV illumination.
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