光电探测器
光探测
响应度
材料科学
异质结
光电子学
紫外线
光电导性
比探测率
光学
半导体
物理
作者
Shan Li,Yusong Zhi,Chao Lu,Chao Wu,Zuyong Yan,Zeng Liu,Jian Yang,Xulong Chu,Daoyou Guo,Peigang Li,Zhenping Wu,Weihua Tang
标识
DOI:10.1021/acs.jpclett.0c03382
摘要
/CuI interface are predicted by first principle calculation.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI