A Reflectance Analog Computer for the Determination of Thin Film Optical Properties

薄膜 材料科学 光学 反射率 光强度 光电子学 强度(物理) 光记录 物理 纳米技术
作者
J. J. H. Reche,D.L. Pulfrey
出处
期刊:Review of Scientific Instruments [American Institute of Physics]
卷期号:44 (7): 914-915 被引量:1
标识
DOI:10.1063/1.1686281
摘要

Apparatus is described which allows the continuous automatic recording of the intensity of linearly polarized light reflected from a growing thin film. From these data the optical properties of the thin film can be determined.

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