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 Secure Scan and Test Using Obfuscation Throughout Supply Chain 相关领域
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计算机科学
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期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Xiaoxiao Wang; Dongrong Zhang; Miao He; Donglin Su; Mark Tehranipoor 出版日期：2017-11-13 |
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