| 标题 |
 High-Temperature Electrical Insulation Degradation Mechanism in TiN/Ti(C, N)/Al2O3 Composite Ceramic Films TiN/Ti（C，N）/Al2O3复合陶瓷膜高温电绝缘退化机理
相关领域
材料科学
锡
复合数
陶瓷
降级（电信）
复合材料
机制（生物学）
冶金
电子工程
认识论
工程类
哲学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Ceramics International 作者：Y. Y. Huang; Zixin Huang; Xin Li; Yaqiang Ji; Z. Yang; et al 出版日期：2025-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
GingerF
BowieHuang
Criminology34
轨迹
Mufreh
寻道图强
有人
无极微光
toutou
AN
好好
微微旺旺
劉浏琉
Ming
lanxinyue
NattyPoe
sys549
帝国之花
xiaofan
smottom
Frank
轻松大王
pluto
Rita
皖公网安备34019202002308
