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 Interface Defect and Charge Carrier Transport Properties in Substrate-dependent p-type Tunnel Oxide Passivated Contact Layers 衬底相关p型隧道氧化物钝化接触层的界面缺陷和载流子输运特性
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期刊：Thin Solid Films 作者：Dohyung Kim; Yong-Jin Kim; Min Woo Lee; K.H. Im; June Park; et al 出版日期：2025-01-01 |
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