Impact of Post-Deposition Annealing on Electrical Properties of RF-Sputtered Cu2O/4H-SiC and NiO/4H-SiC PiN Diodes

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标题	Impact of Post-Deposition Annealing on Electrical Properties of RF-Sputtered Cu2O/4H-SiC and NiO/4H-SiC PiN Diodes
网址	https://doi.org/10.1007/s13391-024-00484-1
DOI	10.1007/s13391-024-00484-1 doi
其它	期刊：Electronic Materials Letters 作者：Hyung‐Jin Lee; Soo-Young Moon; Kung‐Yen Lee; Sang‐Mo Koo 出版日期：2024-03-06
求助人	linkai 在 2026-08-03 14:25:06 发布自福建，悬赏 10 积分
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