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Origin of Soft Breakdown in Thin-Barrier AlGaN/GaN SBD With C-Doped GaN Buffer 掺C GaN缓冲液薄势垒AlGaN/GaN SBD软击穿的起源
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hao Wu; Xuanwu Kang; Yingkui Zheng; Wei Ke; Rikang Zhao; et al 出版日期:2022-12-19 |
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