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 Near‐Infrared Imaging Highly Enhanced by Pixel‐Level Integrated Plasmonic Metasurfaces on CMOS Image Sensors CMOS图像传感器上像素级集成等离子体超表面高度增强的近红外成像
相关领域
材料科学
等离子体子
光探测
图像传感器
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CMOS传感器
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薄膜晶体管
物理
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Xianghong Nan; Qi‐Tai Zheng; Yajin Dong; Yongjun Liu; Dahui Pan; et al 出版日期：2024-10-03 |
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