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 Near‐Infrared Imaging Highly Enhanced by Pixel‐Level Integrated Plasmonic Metasurfaces on CMOS Image Sensors CMOS图像传感器上像素级集成等离子体超表面高度增强的近红外成像
相关领域
材料科学
等离子体子
光探测
图像传感器
光电子学
像素
CMOS芯片
光电二极管
光电探测器
近红外光谱
CMOS传感器
吸收（声学）
活动层
光学
图层（电子）
纳米技术
薄膜晶体管
物理
复合材料
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Xianghong Nan; Qi‐Tai Zheng; Yajin Dong; Yongjun Liu; Dahui Pan; et al 出版日期：2024-10-03 |
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