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标题
Hot Carrier Injection (HCI) Reliability of Fabricated Y-gate HEMT with Various Top Length
不同顶部长度Y栅HEMT的热载流子注入可靠性
相关领域
材料科学 高电子迁移率晶体管 跨导 光电子学 可靠性（半导体） 热载流子注入 俘获 压力（语言学） 降级（电信） 电气工程 晶体管 电压 功率（物理） 工程类 物理 哲学 生物 量子力学 语言学 生态学
网址
https://doi.org/10.1149/2162-8777/acbe19
DOI
10.1149/2162-8777/acbe19 doi
其它 期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology
作者：Yu-Lin Chen; Wen‐Kuan Yeh; Ke‐Horng Chen; Heng‐Tung Hsu; Chin-Tsai Hsu; et al
出版日期：2023-02-22
求助人
LDWV 在 2025-12-05 18:17:04 发布自贵州，悬赏 10 积分
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