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![]() SiC TEG芯片在线监测含银烧结连接和无铅、无铅钎料功率模块功率循环试验过程中的热阻和可靠性特性
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Dongjin Kim; Shijo Nagao; Chuantong Chen; Naoki Wakasugi; Yasuyuki Yamamoto; et al 出版日期:2020-10-17 |
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