| 标题 |
Enhanced Reliability and Microstructure Control in Dy/Y Co‐Doped BaTiO3 Ceramics 相关领域
材料科学
微观结构
电介质
陶瓷
复合材料
烧结
电容器
陶瓷电容器
扫描电子显微镜
介电谱
粒度
还原气氛
可靠性(半导体)
压力(语言学)
空位缺陷
晶界
透射电子显微镜
大气温度范围
航程(航空)
矿物学
电阻抗
介电损耗
分析化学(期刊)
晶粒生长
介电强度
温度系数
分光计
光谱学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of The American Ceramic Society 作者:Shu-Cheng Liu; Shangchao Chi; Kui-Kui Chen; F. Si; Moke Zhou; et al 出版日期:2026-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人或该文件上传人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)