| 标题 |
The Effect of As+ Ion Implantation and Annealing on the Electrical Properties of Near-Surface Layers in Graded-Gap n-Hg0.78Cd0.22Te Films |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Technical Physics Letters 作者:A. V. Voitsekhovskii; S. N. Nesmelov; S. M. Dzyadukh; V. S. Varavin; S. A. Dvoretskii; et al 出版日期:2021-03-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)