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 Extraction of trap densities in Al:HfO2 MIM capacitors using voltage ramp stress measurements 利用电压斜坡应力测量提取Al：HfO2 MIM电容器中的陷阱密度
相关领域
存水弯（水管）
计算机科学
算法
物理
气象学
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Corinna Fohn; Emmanuel Chery; Kristof Croes; Michele Stucchi; Valeri Afanasiev 出版日期：2025-09-10 |
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