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 Improved Reliability of 278 nm Deep Ultraviolet AlGaN-Based Flip-Chip Light Emitting Diodes by Using ITO/Al Contact 使用ITO/Al接触提高278nm深紫外AlGaN基倒装发光二极管的可靠性
相关领域
材料科学
二极管
光电子学
紫外线
发光二极管
倒装芯片
电压
光谱学
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电气工程
量子力学
胶粘剂
物理
工程类
图层（电子）
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Woong-Sun Yum; Sang-Youl Lee; Hyun-Soo Lim; Rak-Jun Choi; Jeong-Tak Oh; et al 出版日期：2021-03-22 |
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