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 Sources of error and methods to improve accuracy in interface state density analysis using quasi-static capacitance–voltage measurements in wide bandgap semiconductors 宽带隙半导体中准静态电容-电压测量界面态密度分析的误差来源和提高精度的方法
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Brian Rummel; James A. Cooper; Dallas Morisette; Luke Yates; Caleb Glaser; et al 出版日期：2023-09-25 |
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