| 标题 |
Line-edge roughness increase due to wiggling enhanced by initial pattern waviness 由于初始图案波纹度增强的摆动,线边缘粗糙度增加
相关领域
波纹度
材料科学
GSM演进的增强数据速率
表面光洁度
蚀刻(微加工)
屈曲
直线(几何图形)
压力(语言学)
光学
失真(音乐)
复合材料
几何学
光电子学
物理
数学
图层(电子)
电信
哲学
CMOS芯片
语言学
放大器
计算机科学
|
| 网址 | |
| DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)