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The mechanism for the suppression of leakage current in high dielectric TiO2 thin films by adopting ultra-thin HfO2 films for memory application |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Minha Seo; Sang Ho Rha; Seong Keun Kim; Jeong Hwan Han; Woongkyu Lee; et al 出版日期:2011-07-21 |
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