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  Structural and photodetector characteristics of Zn and Al incorporated ZnGa2O4 films via co-sputtering 相关领域
材料科学
溅射
光电子学
响应度
带隙
结晶度
紫外线
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光电探测器
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薄膜
光学
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物理
复合材料
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期刊：Results in physics 作者：Anoop Kumar Singh; Chao-Chun Yen; Dong‐Sing Wuu 出版日期：2022-01-07 |
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