| 标题 |
Failure analysis of a low yield mixed-signal product due to Deep-Nwell fabrication process marginality |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits 作者:Aaron K.Y. Chin; P.H. Seah; F.L. Chow; C.Q. Koh; C.C. Heng 出版日期:2010-08-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)