| 标题 |
Fitting fatigue test data with a novel S-N curve using frequentist and Bayesian inference |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:International Journal of Fatigue 作者:Davide Leonetti; Johan Maljaars; H.H. (Bert) Snijder 出版日期:2017-12-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)