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Thermo-mechanical characterization of copper through-silicon vias (Cu-TSVs) using micro-Raman spectroscopy and atomic force microscopy 用显微拉曼光谱和原子力显微镜表征铜硅通孔(Cu-TSVs)的热机械特性
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:Parisa Bayat; Dietmar Vogel; Raúl D. Rodriguez; Evgeniya Sheremet; Dietrich R. T. Zahn; et al 出版日期:2015-02-25 |
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