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Contact hole patterning performance of ArF resist for 0.10 μm technology node 0.10 μ m工艺节点ArF抗蚀剂的接触孔图案化性能
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Jin‐Soo Kim; Jae Chang Jung; Keun-Kyu Kong; Geunsu Lee; Sung‐Koo Lee; et al 出版日期:2002-07-15 |
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